Пояснительная записка: 76 страниц, 19 рисунков, 11 таблиц, 25 источников.
Объектом исследования данной работы выступает рынок полупроводниковых чипов. Предметом исследования является использование методов логистической регрессии для определения неисправных чипов.
Цель данной работы – разработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с применением методов логистической регрессии. Для достижения этой цели необходимо решить следующие задачи:
- описать рынок полупроводниковых чипов и его актуальные тенденции;
- исследовать методы логистической регрессии и их применение в области диагностики неисправностей;
- описать используемые средства разработки, включая возможности пакета Matlab;
- разработать программный модуль для определения неисправных чипов на основе собранных данных.
Практическая значимость результатов исследования заключается в создании эффективного инструмента для диагностики неисправных чипов, который позволит повысить качество производства и снизить затраты на тестирование. Ожидается, что разработанный программный модуль станет полезным для специалистов в области полупроводниковой электроники и поможет улучшить процессы контроля качества.