Определение индексов отражающих плоскостей и расчет параметров элементарной ячейки

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Тип
Просмотров
177
Покупок
0
Антиплагиат
70% Антиплагиат.РУ (модуль - Интернет Free)
Размещена
3 Апр 2024 в 11:23
ВУЗ
УрФУ
Курс
4 курс
Стоимость
1 000 ₽
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
docx
ргр
246.5 Кбайт 1 000 ₽
Описание

Вариант 21

Цель работы:

1.          Ознакомиться с методами аналитического индицирования порошковых рентгенограмм кубической сингонии;

2.          Определить индексы отражающих плоскостей кристаллов и тип решетки Браве;

3.          Рассчитать параметры элементарной ячейки.

Принадлежности: рентгенограммы образцов с кубической сингонией, компьютер и калькулятор.

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Другие работы автора
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир