(ТОГУ Физика) При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Тип
Просмотров
134
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
27 Ноя 2023 в 06:59
ВУЗ
ТОГУ
Курс
Не указан
Стоимость
100 ₽
Демо-файлы   
1
png
вопрос
36.3 Кбайт
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
png
ответ
41.1 Кбайт 100 ₽
Описание

При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины решетки равно

(рисунок - в демо-файлах)

Ответ:

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
11 Окт в 13:15
7 +7
0 покупок
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
11 Окт в 12:42
7 +7
0 покупок
Другие работы автора
Высшая математика
Тест Тест
28 Сен в 18:06
19
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
25 Сен в 12:30
25
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
23 Сен в 09:48
23
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
23 Сен в 09:46
23
0 покупок
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир